Современные проблемы стандартизации и метрологии в нанотехнологиях
Автор(ы): | Окрепилов В.В. | |
Издательство: | Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. университета | |
Год издания: | 2013 | |
Вид издания: | Научное издание | |
Страниц: | 402 | |
Отрасль знаний: | Техника и технические науки | |
Язык: | русский | |
ISBN: | 978-5-7422-4096-9 | |
Аннотация: | Монография освещает место и роль стандартизации и метрологии при действиях с объектами, относящимися к нанодиапазону. Особое внимание уделяется необходимости комплексного использования стандартов и средств измерений в нанотехнологиях, содержатся сведения о международных и национальных стандартах, создании системы информационного обеспечения проводимых работ.
Количество просмотров данной книги: 345 |
Чтобы оставить комментарий, Вам нужно зарегистрироваться и/или войти на сайт, используя форму входа
Комментарии: