Современные проблемы стандартизации и метрологии в нанотехнологиях
 | Автор(ы): | Окрепилов В.В. |
| Издательство: | Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. университета | |
| Год издания: | 2013 | |
| Вид издания: | Научное издание | |
| Страниц: | 402 | |
| Отрасль знаний: | Техника и технические науки | |
| Язык: | русский | |
| ISBN: | 978-5-7422-4096-9 | |
| Аннотация: | Монография освещает место и роль стандартизации и метрологии при действиях с объектами, относящимися к нанодиапазону. Особое внимание уделяется необходимости комплексного использования стандартов и средств измерений в нанотехнологиях, содержатся сведения о международных и национальных стандартах, создании системы информационного обеспечения проводимых работ.
Количество просмотров данной книги: 363 |
Чтобы оставить комментарий, Вам нужно зарегистрироваться и/или войти на сайт, используя форму входа
Комментарии:
